當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 電化學(xué)設(shè)備 > 高溫高壓氫脆測(cè)試-氫環(huán)境測(cè)試系統(tǒng) > IPS愛(ài)譜斯科技?xì)洵h(huán)境測(cè)試場(chǎng)景系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述:IPS愛(ài)譜斯科技?xì)洵h(huán)境測(cè)試場(chǎng)景系統(tǒng)提供了在壓力和溫度下將拉伸試樣機(jī)械加載到高壓釜中的可能性。確保了各種各樣的氫環(huán)境測(cè)試實(shí)驗(yàn)。
詳細(xì)介紹
給我們留言
IPS愛(ài)譜斯科技?xì)洵h(huán)境測(cè)試場(chǎng)景系統(tǒng) 以下是我們IPS愛(ài)譜斯科技所知道的用于研究氫環(huán)境場(chǎng)景的不同測(cè)試系統(tǒng)變體的指南。對(duì)于每個(gè)選項(xiàng),根據(jù)預(yù)算都有可能集成到現(xiàn)有的的任何氫環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)中。建議研究者在實(shí)際經(jīng)濟(jì)情況下考慮對(duì)現(xiàn)有氫環(huán)境系統(tǒng)的變種和集成,甚至是按需修改。在某些情況下,還必須考慮使用可能性的限制。本文討論了氫氣氛中的組件測(cè)試和氫滲透的主題(本文不涉及電解和燃料電池領(lǐng)域)。IPS愛(ài)譜斯科技的陳述側(cè)重于工程考慮和從用戶角度展示我們的氫環(huán)境場(chǎng)景測(cè)試系統(tǒng)。
在氫擴(kuò)散或滲透中,必須區(qū)分氫原子H和氫分子H2。 電化學(xué)方法通常產(chǎn)生氫原子,它比氫分子更容易擴(kuò)散。 在壓力方法測(cè)試的情況下,盡管有必要研究哪些結(jié)合是可行的,但通常還是氫分子起主導(dǎo)作用。
促進(jìn)氫分子擴(kuò)散的力包括:壓力、機(jī)械變形和溫度。通常這些因素的組合具有更大的影響,具體取決于應(yīng)用目的和氫環(huán)境場(chǎng)景。
1. IPS愛(ài)譜斯科技?xì)洵h(huán)境測(cè)試場(chǎng)景系統(tǒng) Standard measuring cell 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量池
實(shí)驗(yàn)室中經(jīng)常有恒電位儀/很恒電流儀、測(cè)量池,有時(shí)甚至是拉伸試驗(yàn)機(jī)。拉伸試樣在腐蝕測(cè)量池中被陰極極化產(chǎn)生氫氣。這種氫氣滲透到樣品中(如果需要,需添加硫脲和改變溫度)。在規(guī)定的時(shí)間后,將樣品從電池中取出,夾在拉伸試驗(yàn)機(jī)中并進(jìn)行機(jī)械加載,直到樣品斷裂。“正常”樣品顯示斷裂點(diǎn)處的典型頸縮,用 H2 損壞的樣品顯示脆性斷裂。
設(shè)備要求:
◎ 恒電位儀/恒電流儀
◎ 測(cè)量池
◎ 拉力試驗(yàn)機(jī)
◎ 可選項(xiàng):溫度控制
2. Tube Cell with a load testing machine 用負(fù)載試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)的管狀電解池
通過(guò)使用該測(cè)試池,可以一次完成上述測(cè)試過(guò)程。 形拉伸試樣同時(shí)被拉緊和電化學(xué)極化,以顯著減少測(cè)試時(shí)間。
設(shè)備要求:
◎ 恒電位儀/恒電流儀
◎ 管式測(cè)量池
◎ 負(fù)載測(cè)試機(jī)
3. Devanathan Cell heatable / not heatable 控溫Devanathan測(cè)試池
Devanathan測(cè)試 池,通常稱(chēng)為雙半池,允許將樣品像膜一樣夾在中間進(jìn)行測(cè)試。左側(cè),通常稱(chēng)為裝載側(cè),氫氣以電化學(xué)方式(也可能通過(guò)酸洗純化學(xué)方式)產(chǎn)生,氫氣產(chǎn)生并擴(kuò)散到鋼材中。右側(cè),通常稱(chēng)為測(cè)量側(cè),以電化學(xué)方式測(cè)量氫感應(yīng)電流。這樣的測(cè)試,通常是扁平樣品,同時(shí)也可以在負(fù)載試驗(yàn)機(jī)中極化后拉到斷裂點(diǎn)。
設(shè)備要求:
◎ 1臺(tái)或2臺(tái)恒電位儀/恒電流儀
◎ Devanathan 測(cè)試池
◎ 可選項(xiàng):負(fù)載測(cè)試機(jī)、溫度控制
4. Devanathan Cell heatable / not heatable with tensile sample holder 帶拉伸樣品架的控溫Devanathan測(cè)試池
設(shè)備設(shè)置如 3,但此處拉伸試樣直接插入我們?yōu)?Devanathan 測(cè)試池開(kāi)發(fā)的拉伸試樣支架中。樣品以電化學(xué)方式暴露于氫滲透環(huán)境并并機(jī)械地承受拉應(yīng)力。
設(shè)備要求:
◎ 1臺(tái)或2臺(tái)恒電位儀/恒電流儀
◎ Devanathan測(cè)試池
◎ Devanathan 測(cè)試池的拉伸樣品架
◎ 可選項(xiàng):負(fù)載測(cè)試機(jī)、溫度控制
5. Test device for constant load samples exposede to pressurized hydrogen 加壓氫氣恒載樣品試驗(yàn)裝置
這個(gè)緊湊的裝置包含三個(gè)部分:小型高壓釜、高壓泵 (1000bar) 和加熱器 (200 °C)。樣品用一個(gè)小“恒定負(fù)載”張力裝置進(jìn)行機(jī)械預(yù)加載,隨后放入高壓釜中(一次 3 個(gè)樣品)。然后使高壓釜達(dá)到標(biāo)稱(chēng)壓力并加熱。通過(guò)該裝置,樣品可以從外部加載加壓氫氣和溫度。在規(guī)定的測(cè)量時(shí)間后,終止實(shí)驗(yàn)并取出樣品。如果樣品沒(méi)有損壞,還可以將它們繼續(xù)夾在負(fù)載系統(tǒng)中來(lái)完成。此系統(tǒng)同樣適合 4 點(diǎn)彎曲試樣。
設(shè)備要求:
◎ 高壓高壓反應(yīng)釜
◎ 加熱和控制系統(tǒng)
6. Hollow tensile specimen test rig 空心拉伸試樣試驗(yàn)臺(tái)
該設(shè)備由拉伸試驗(yàn)機(jī)(拉伸和壓縮)、帶閥門(mén)和控制裝置的增壓系統(tǒng)(1000bar)、帶閥門(mén)和控制裝置的真空室以及必要時(shí)的殘余氣體分析組成??招你@孔樣品首先抽真空,然后用 1000bar 氫氣加壓。這里的滲透流路是由內(nèi)向外。樣品被真空室包圍,環(huán)境空氣被抽空,例如,用戶可以在真空回路中進(jìn)行殘余氣體分析,以檢測(cè)擴(kuò)散的氫氣。真空室還具有保護(hù)作用。如果樣品破裂,則樣品和管道中所含的氫氣會(huì)逸出到腔室中并耗盡。不會(huì)向?qū)嶒?yàn)室釋放氫氣。此外,還有一個(gè)用于樣品的加熱裝置,這會(huì)給樣品帶來(lái)額外的應(yīng)力。除了實(shí)驗(yàn)持續(xù)時(shí)間和殘余氣體分析外,裂縫模式還可以提供有關(guān)實(shí)驗(yàn)進(jìn)展的進(jìn)一步信息。由于整套系統(tǒng)的價(jià)格非常高,前期可以只選擇高壓部分,并在后期逐漸升級(jí)。
設(shè)備要求:
◎ 負(fù)載試驗(yàn)機(jī)
◎ 增壓系統(tǒng) (1000bar)
◎ 真空設(shè)備
◎ 安全相關(guān)的控制系統(tǒng)
◎ 可選項(xiàng):殘余氣體分析
7. Complete H2 test plant for dynamic load test with elevated pressure and temperature 用于高壓和高溫動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試的完整 H2 測(cè)試設(shè)備
該測(cè)試系統(tǒng)提供了在壓力和溫度下將拉伸試樣機(jī)械加載到高壓釜中的可能性。確保了各種各樣的氫環(huán)境測(cè)試實(shí)驗(yàn)。即使在適度的測(cè)試條件下也會(huì)有大于 1000 升甚至更多的氫氣從體系中逸出,所以需要一個(gè)適當(dāng)控制的綜合安全系統(tǒng)柜。這樣的系統(tǒng)安裝必須在調(diào)試前獲得當(dāng)?shù)?TÜV 的批準(zhǔn)。
設(shè)備要求:
◎ 伺服液壓負(fù)載試驗(yàn)機(jī)
◎ 高溫高壓反應(yīng)釜
◎ 通過(guò)屋頂通風(fēng)的保護(hù)室
◎ 用于氣體控制和氣體測(cè)量的儀表和閥門(mén)的配電柜
◎ 穩(wěn)壓器
產(chǎn)品分類(lèi)
Product相關(guān)文章
Articles